10.3969/j.issn.1003-0107.2023.09.004
基于V93000 ATE性能测试方法的实现
针对SoC芯片ATE性能测试进行了研究,分析芯片性能测试的关键参数和典型测试类型(内部模块性能测试和接口数据流性能测试).基于这两种测试类型,以"Date Rate"性能测试为例,分别进行了测试方法的实现.内部模块性能测试的实现,通过指示信号输出性能测试开始和结束波形,采用逆向思维通过"ERCT"获取代表性能运行时间的"Fail Cycle"数,然后对性能时间进行计算来获得性能测试值.接口数据流性能测试的实现,主要通过"Digital Capture"捕获接口数据,然后对接口数据进行处理和计算来获得性能测试值.上述性能测试方法及原理,在ATE测试应用中具有通用性,对于相同或相似的基于时间参数的芯片性能测试具有参考作用.
V93000、自动测试设备、速率、性能、芯片测试
TM93
2023-10-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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