10.3969/j.issn.1003-0107.2022.08.020
大尺寸CQFN封装板级组装可靠性研究
CQFN封装具有可靠性高、性能优、重量轻等优点,日益受到高可靠器件应用的青睐.随着芯片尺寸不断增大,基于大尺寸CQFN外壳的封装形式越来越多被采用.该文通过对外壳尺寸为10 mm×10 mm的CQFN封装电路板级组装进行仿真分析和实验验证,探究了大尺寸CQFN外壳封装器件板级组装可靠性的薄弱点和影响因素,验证了其可靠性水平,为指导解决基于大尺寸CQFN外壳封装器件板级组装可靠性问题提供了参考.
大尺寸CQFN外壳、板级组装、可靠性
TN405(微电子学、集成电路(IC))
2022-09-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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