10.3969/j.issn.1003-0107.2021.10.010
基于ATE的NAND FLASH测试方法研究
随着信息化时代的发展,全球对数据存储的需求越来越多,NAND FLASH作为一款大容量存储器也被广泛应用到各种储存设备中,其测试评价需求也日益递增.该文针对这类存储器介绍了一种基于ATE(Automatic Test Equipment)的NAND FLASH测试方法.首先以镁光的MT29FxxGxx芯片为例,介绍了NAND FLASH存储器的基本工作原理,并从功能测试、直流参数、交流参数三个方面对常用的测试方法进行了阐述.
NAND FLASH存储器;ATE;测试方法;功能测试
TP333(计算技术、计算机技术)
2021-11-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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