10.3969/j.issn.1003-0107.2021.10.009
一种基于ATE的反熔丝FPGA测试方法研究
针对反熔丝FPGA端口测试复杂度高和稳定性差的问题,提出了一种基于ATE的反熔丝FPGA的端口测试方法,该方法仅使用一段特殊编程的测试码就可以测试出相应的电特性.经过ATE测试验证,该测试方法可以有效提高近32%的测试效率,测试的准确性也得到了保证.
FPGA;反熔丝;ATE;测试
TN407(微电子学、集成电路(IC))
2021-11-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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