10.3969/j.issn.1003-0107.2021.01.009
基于ATE的一种MCU测试方法
微控制单元(MCU),又称片上微型计算机(Single Chip Microcomputer)或者叫作单片机,它是把中央处理器的频率与规格做适当集成缩小,并将内存memory、TIME计数器、USB接口、D/A转换接口、UART接口、锁相环PLC、DMA等甚至LCD驱动面板电路都整合在同一芯片上,形成芯片级的处理系统,然后这为不同的应用场景,来做不同的组合控制.在这数字时代的快速发展对MCU的应用也越来越多,相应的MCU测试也越来越重要.因此如何快速而有效地筛选出合格的电路也迫在眉睫.针对MCU测试,该文提出一种创新型测试方法,在基于J750EX测试系统上,能够大大减少MCU重复烧写次数,在测试系统直接测试,提高测试效率和测试覆盖率.
单片机、测试系统、测试效率、测试方法
TN407(微电子学、集成电路（IC）)
2021-03-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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