10.3969/j.issn.1003-0107.2020.11.014
两种可靠性加速测试方法及失效率评估与预测
可靠性测试项目种类有很多,如何选择,用较少的样品数及较少的测试时间来最大化的发现产品的失效率和失效模式,从而进一步提高产品的可靠性,这个是电子行业内普遍比较感兴趣的课题.该文结合笔者多年在电子产品领域的研发设计和可靠性工作经验,推荐两种可靠性加速测试方法:双85测试和高低温冲击测试,并重点介绍了两种测试方法的加速因子计算;同时介绍了一种用卡方分布来推测产品失效率的计算方法,最后该文根据一个实际电子产品的案例,给出如何根据产品的预期失效率设计双85测试的测试时间和测试样品数,以及如何根据产品的预期使用寿命内总开关次数设计高低温冲击测试的测试条件和测试循环数.
可靠性加速测试、双85测试、高低温冲击测试、加速因子、卡方分布、失效率、平均失效时间(MTTF)、使用寿命
TN406(微电子学、集成电路（IC）)
2020-12-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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