10.3969/j.issn.1003-0107.2020.10.011
基于性能退化数据的固态微波功率器件加速寿命试验
该文针对固态微波功率器件的实际工作条件,选择GaN固态微波功率器件,开展直流稳态加速寿命试验和射频动态加速寿命试验,通过二者试验数据,分析器件的退化趋势,并得出器件的失效率,对固态微波功率器件的寿命可靠性研究提供参考.
微波功率器件、加速寿命试验、性能退化
TN307;TN62(半导体技术)
2020-11-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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