10.3969/j.issn.1003-0107.2018.03.004
电源类芯片测试修调方法及问题分析
IC芯片设计中为了降低工艺波动对产品良率的影响,提高测试成品率保证参数一致性,通常采用修调方式,尤其在电源类芯片设计中较常见.其中最典型的修调方式就是产品在晶圆测试时,通过熔丝或二极管的修调补偿来调整电路的输出基准和频率,也有的是调整电流.该文主要通过几个电源类芯片测试实例来讲解CP测试中常见的TRIMMING方法,探讨修调测试中易出现的问题和相应的解决方案.
熔丝、二极管、修调、补偿、调整
TN86(无线电设备、电信设备)
2018-05-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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