10.3969/j.issn.1003-0107.2016.12.019
基于NIOS II嵌入式系统的芯片自动测试系统设计
随着国内芯片产业的不断发展，芯片供货需求大，但是批量测试无法满足供货要求，为此，该文提出一种基于NIOS II嵌入式系统的芯片自动测试系统设计。NIOS II是Altera公司推出的一种高效、灵活的可编程片上系统，由内置NIOS II软核处理器[1]、存储器、通信接口以及自定义外设构成，编写下位机自动测试控制程序并下载进FPGA，使用串口进行上下位机通信，从而完成芯片自动测试系统设计。
NIOS II、嵌入式系统、集成电路、自动测试系统
TP2(自动化技术及设备)
2017-02-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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