10.3969/j.issn.1003-0107.2013.11.006
集成电路符合性和使用性测试方法研究与实践
该文针对军用集成电路失效率高、上线质量难以控制的实际情况,探讨了集成电路装配前的质量控制重点,结合实际案例,提出了侧重于符合性和使用性要求的两种测试方法,并在某型器件失效分析中进行应用,以指导集成电路的质量控制工作.
集成电路、符合性测试、使用性测试、失效分析、质量控制
TN407(微电子学、集成电路(IC))
2013-12-06(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共8页
24-30,36