10.3969/j.issn.1003-0107.2013.07.016
厚膜电阻器短时过负载破坏性试验阻值变化趋势分析
该文介绍了厚膜片式电阻器短时过载试验时,按不同幅度施加高于规定的试验电压后,电阻阻值变化的情况.结果表明:电阻在过负载的情况下逐步施加不同倍数的额定电压,电阻值将逐渐变小;当施加的电压继续升高,电流开始向绝缘电阻减小的地方集中,所引起的热量将导致电阻体发生破坏,电阻值上升,直至开路.这对分析及预防电阻器在混合电路中发生阻值异常提供帮助.
短时过负载、额定电压、阻值变化率
TM54(电器)
2013-08-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
57-61,67