10.3969/j.issn.1003-0107.2013.05.002
一种W波段器件插损测试的方案分析
W波段器件插损的测试通常采用传输测量方法,该文提出了一种利用反射测量方法测试器件插损的方案,并对这一方案进行了一定的分析.
传输测量、反射测量、插入损耗、方向性、驻波比
TN80(无线电设备、电信设备)
2013-06-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
5-7
10.3969/j.issn.1003-0107.2013.05.002
传输测量、反射测量、插入损耗、方向性、驻波比
TN80(无线电设备、电信设备)
2013-06-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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