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10.3969/j.issn.1003-0107.2013.04.019

某型导弹用测温电路低温故障分析

引用
针对某型导弹用测温电路低温测试温度跳变故障,从原理上分析了故障产生的原因,采用试验及理论分析相结合的方法,找到了解决该故障的措施,对光电耦合器低温测试方法进行了改进,消除了故障隐患,提高了产品质量.

测温电路、低温、光电耦合器

TJ76(火箭、导弹)

2013-05-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

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1003-0107

44-1038/TN

2013,(4)

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