牛津仪器推出最新X射线镀层测厚仪
牛津仪器非常荣幸地推出新款X-Strata920X射线荧光（XRF）镀层测厚和材料分析仪。该X-Strata920结合了大面积正比计数探测器和牛津仪器微聚焦X射线光管，使X射线光束强度大、斑点小，样品激发更佳，榍保同级别中精确性最好，分析结果只需要几秒钟，从而获得更有效的过程控制和性价比。
X射线荧光、测厚仪、仪器、牛津、镀层、材料分析仪、过程控制、探测器
TH821.1
2013-01-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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