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10.3969/j.issn.1003-0107.2010.08.007

基于FPGA的半导体分立器件分选机控制系统计

引用
介绍了批量生产流程中半导体分立元件测试系统的结构组成,以及半导体分立元件分选机的基本工作方式,在此基础之上研究并设计了接口信号可随意设定的分选机控制系统.该系统具有较强的适用性,可以应用于各种不同种类的半导体分立元件分选机;同时该系统还具有一定的功能扩展性.实验表明该分选机控制系统可以适用于不同类型分选机,通信质量有效可靠,达到预期设计目的.

半导体分立元件测试、半导体分立元件分选机、现场可编程逻辑阵列、Verilog硬件描述语言

TP39(计算技术、计算机技术)

2010-10-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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1003-0107

44-1038/TN

2010,(8)

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