10.3969/j.issn.1003-0107.2010.03.006
模拟集成电路直流参数测试系统的研制
文章介绍了自动测试系统的原理与内部模块之间的工作过程麦系统的总体结构.解决了精确测量单元等关键技术,研制了一种通用性强,成本低,性能可靠的自动测试系统.经过实验与生产应用,所研制的测试系统适合于半导体行业的实际生产需要,具有比较高应用价值.
集成电路测试、精密测量单元、被测器件
TM135(电工基础理论)
2010-05-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共3页
17-18,27
