10.3969/j.issn.1003-0107.2009.10.007
基于边界扫描技术的集成电路测试系统设计与实现
介绍了边界扫描的技术原理,及其在集成电路测试巾的具体应用,并给出了一种基于边界扫描技术的扳级集成电路测试系统的方案及实现.
边界扫捕、IEEE1149.1标准、集成电路测试
TN43(微电子学、集成电路(IC))
2009-12-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
13-15
10.3969/j.issn.1003-0107.2009.10.007
边界扫捕、IEEE1149.1标准、集成电路测试
TN43(微电子学、集成电路(IC))
2009-12-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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