10.3969/j.issn.1003-0107.2009.08.016
薄膜电容器损耗的频率特性
高频损耗是薄膜电容器的一个蕈要的指标,它直接影响整机的可靠性.文章介绍了电容器损耗的概念、损耗的组成、外界因素对损耗的影响;运用试验数据说明薄膜电容器的高频损耗随测试频率的增加而增加,两者之间不是线性关系;通过对薄膜电容器生产过程的分析,指出了高频损耗产生的原因以及应采取的措施,并运用0.618法和正交试验法确定了重要工序的主要参数.
电容器、电容器的损耗、介质损耗、金属损耗、主要技术指标
TM533(电器)
2009-10-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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