10.3969/j.issn.1003-0107.2009.06.011
基于QDRII的一种PXI任意波形发生器数字部分的设计
随着测试技术的发展,对信号的要求越来越高,高采样率任意波形发生器被广泛应用于各种测试系统中.文章重点介绍了在PXI 3U板卡上实现采样率高达200MS/S的任意波形发生器模块的设计.设计中采用QDRII代替了SRAM,解决了由于存储器带宽过小而阻碍任意波形采样率提高的问题.
PXI、任意波形发生器、四倍数据速率存储(QDRII)
TN830(无线电设备、电信设备)
2009-07-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共3页
27-29
