10.3969/j.issn.1003-0107.2008.12.012
SOC基于LFSR的混合模式测试
随着集成电路深亚微米制造技术和设计技术迅速发展.系统芯片(SOC)作为一种解决方案得到了越来越广泛的应用.SOC的测试中,内建自测试(Built.In Self-Test,BLST)成为人们研究的热点.文中对SOC的设计特点及其BIST中的混合模式测试进行了探讨.
SOC、SOB、LFSR、混合模式测试、BIST
TN407(微电子学、集成电路（IC）)
2009-03-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共3页
34-35,39
