10.3969/j.issn.1003-0107.2008.09.014
Ni电极片式多层陶瓷电容器产生开裂的几种因素分析
在片式多层陶瓷电容器的生产制作过程中,电容器开裂现象是比较常见的质量问题之一.本中对陶瓷介质与内电极浆料的匹配、膜片密度、Ni重、排胶、烧结这五个因素是如何导致电容器开裂进行了深入的分析.
开裂、陶瓷介质、内电极浆料、膜片密度、Ni重、排胶、烧成
TM286(电工材料)
2008-11-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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