10.3969/j.issn.1003-0107.2008.05.021
光开关中光路耦合的设计和调试技术
在多路光开关中,为了保证切换过程中,每一路光传输中插入损耗等关键指标的实现,文中介绍了一种光路耦台的设计和调试技术,该方法简单实用,可靠性高并易于实现,满足了批量化生产的调试要求.
光开关、插入损耗、光路调试
TN622(电子元件、组件)
2008-07-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
62-64
10.3969/j.issn.1003-0107.2008.05.021
光开关、插入损耗、光路调试
TN622(电子元件、组件)
2008-07-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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