10.3969/j.issn.1003-0107.2007.12.001
一种基于扫描结构的混合模式BIST的低功耗设计
针对扫描结构混合模式BIST的特点,文章提出了一种利用双模式LFSR和新型折叠控制器相结合的方法来对基于扫描结构的混合模式BIST电路进行低功耗优化设计,从而达到降低待测电路功耗的目的.
BIST、折叠集、折叠控制器、双模式LFSR、准单输入跳变
TN407(微电子学、集成电路(IC))
2008-04-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
1-2,8
10.3969/j.issn.1003-0107.2007.12.001
BIST、折叠集、折叠控制器、双模式LFSR、准单输入跳变
TN407(微电子学、集成电路(IC))
2008-04-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
1-2,8
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1
违法和不良信息举报电话:4000115888 举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn