10.3969/j.issn.1003-0107.2007.04.011
新型IDDT测试的BIST测试生成器设计
内建自测试(BIST)是一种有效降低测试开销的技术,在瞬态电流测试中得到了应用.本文给出了一种新型的瞬态电流测试BIST测试生成器设计方案,该设计可以产生所需要的测试向量对,同时具有硬件开销小的优点.
BIST、测试生成器、自动控制单元、瞬态电流测试
TN407(微电子学、集成电路（IC）)
2007-06-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共3页
29-31
相关文献
评论
