10.3969/j.issn.1003-0107.2006.01.012
高加速寿命试验(HALT)与高加速环境应力筛选(HASS)
将高加速寿命试验与高加速环境应力筛选引入产品的设计、研制和生产中,可在产品批量生产前消除设计缺陷,缩减研发时间和成本,快速提高产品的可靠性并增强市场竞争力.
高加速寿命试验、高加速环境应力筛选、应力
TN306(半导体技术)
2006-03-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共3页
28-30
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10.3969/j.issn.1003-0107.2006.01.012
高加速寿命试验、高加速环境应力筛选、应力
TN306(半导体技术)
2006-03-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号：2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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