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10.3969/j.issn.1003-0107.2005.07.012

低轨卫星微电子器件SER仿真分析

引用
本文首先介绍了空间辐照环境和高能单粒子及其对飞行器微电子器件可靠性的影响,然后综合国外文献,给出了器件软错误率(SER)相对空间粒子辐射强度仿真计算模型,并在此基础上对低轨卫星微电子器件S E R进行了仿真分析.

低轨卫星、微电子器件、单粒子翻转效应、SER

TN92

2005-09-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

34-35,33

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1003-0107

44-1038/TN

2005,(7)

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