10.3969/j.issn.1003-0107.2004.12.024
LED寿命试验系统的建立
介绍了LED寿命试验系统建立过程,提出了寿命试验条件,采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试验台不但操作简便、安全,而且试验容量大.完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性.
发光二极管、芯片、寿命试验
TN306(半导体技术)
2005-08-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共3页
44-45,79
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10.3969/j.issn.1003-0107.2004.12.024
发光二极管、芯片、寿命试验
TN306(半导体技术)
2005-08-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共3页
44-45,79
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号：2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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