10.3969/j.issn.1003-0107.2004.09.003
一种先进的时序电路测试生成算法
本文对近年来国内外学者在时序电路测试生成方面的研究成果进行了综述,对其做了比较、分析,并在前人研究的基础上提出一种时序电路的测试生成方法.
测试生成、故障模拟、状态判决
TM58(电器)
2005-08-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
6-8
10.3969/j.issn.1003-0107.2004.09.003
测试生成、故障模拟、状态判决
TM58(电器)
2005-08-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
6-8
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1
违法和不良信息举报电话:4000115888 举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn