10.3969/j.issn.1003-0107.2003.08.024
应用虚拟仪器(VI)技术开发集成电电路闩锁测试系统
闩锁(1atch-up)效应严重影响了CMOS集成电路的可靠性,如何对其进行快速有效地测试是很有必要的.本文主要介绍了代表了当今世界测试仪器技术发展方向的虚拟仪器技术(Ⅵ)及其在开发集成电路闩锁测试系统过程中的应用.
Ⅵ、虚拟仪器、闩锁、1atch-up、测试
TU8;G4
2005-08-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共3页
53-55
相关文献
评论
