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10.3969/j.issn.1004-4507.2016.12.002

清洗系统在晶圆减薄后的应用

引用
根据集成电路晶圆的不同用途,分析了晶圆减薄后,残留的污染物对后续工艺的影响;提出了一种集成在减薄机内部的清洗系统,根据清洗目标,配套了完整的清洗方案.

晶圆、减薄后、清洗系统

45

TN305.97(半导体技术)

2017-02-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

7-9,43

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1004-4507

62-1077/TN

45

2016,45(12)

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