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10.3969/j.issn.1004-4507.2015.06.010

f-θ扫描物镜设计与研究

引用
以初级像差理论为基础,借助ZEM A X 光学设计软件,通过建立合理的品质函数,优化设计得到了符合实际使用要求的f-θ聚焦物镜.

半导体设备、f-θ透镜、线性、负畸变

TN305.7(半导体技术)

2015-08-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

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电子工业专用设备

1004-4507

62-1077/TN

2015,(6)

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