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10.3969/j.issn.1004-4507.2013.05.009

发光强度测量与计算在探针测试中的应用

引用
通过对光谱仪的控制,对各项发光强度参数的计算与校准,在传统的探针设备基础上增加发光强度的测试过程,从而丰富探针设备的功能.目前设备已经达到红、黄、蓝光芯片的测试的要求,并在客户现场投入使用.主要总结归纳发光强度测量计算方法与实验结论.

光谱仪、发光强度参数、计算与校准

TN407(微电子学、集成电路(IC))

2013-06-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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电子工业专用设备

1004-4507

62-1077/TN

2013,(5)

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