期刊专题

10.3969/j.issn.1004-4507.2012.03.007

应用系统级ATE测试增进IC设计验证效率

引用
在IC设计周期内尽早发现问题,对于保证项目在预算内按时完成是至关重要的。大多数设计公司目前的通用方法是利用分立仪器,如示波器、频谱分析仪等,连接至一块评估板.并连至PC机,搭建一个系统级验证系统。这样的系统比较易于搭建.但相对缺乏大量数据的分析处理能力,且通常需手动测试。另一方面,ATE在数据采集及分析处理方面具有非常强大的能力。例如SHM00及自动测试。但通常ATE是在芯片级的自动化测试量产中大量应用.利用ATE进行系统级的测试并不容易。这里介绍一种新的方法,简化ATE上的协议通信设置.使得ATE能够在系统级测试中方便地应用,不增加测试成本,而且大大简化了ATE上的测试程序开发。应用此方案.设计及验证工程师可以协同工作,在短时间内搭建一个基于ATE平台的系统级的测试环境.充分利用ATE强大的数据采集,分析能力,更快更有效地进行芯片的测试验证。从而赢得上市时间。

系统级测试、协议识别、设计验证

41

TN407(微电子学、集成电路(IC))

2012-06-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

20-23,35

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电子工业专用设备

1004-4507

62-1077/TN

41

2012,41(3)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn

打开万方数据APP,体验更流畅