10.3969/j.issn.1004-4507.2007.10.003
CMP抛光机抛光盘温度的精确控制
CMP的加工过程,是对晶圆表面进行平坦化的过程,在对晶圆表面材料进行去除当中产生了热量,造成温度的上升,为了获得均匀的抛光去除率,达到全局的平坦化,必须对温度采取精确控制,分析研究了CMP加工过程中热量的产生,并介绍了一种对温度进行控制的方法.
抛光液、抛光盘、温度控制
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TN307(半导体技术)
2007-12-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
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10.3969/j.issn.1004-4507.2007.10.003
抛光液、抛光盘、温度控制
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TN307(半导体技术)
2007-12-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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