期刊专题

10.3969/j.issn.1004-4507.2007.09.012

电子组装中焊点的失效分析

引用
焊点的失效分析是电子产品质量和可靠性保证体系的重要组成部分.本文首先概述了焊点的失效机理,主要包括热致失效、机械失效、电化学失效.在些基础之上,综述了焊点的失效分析的基本流程与各类失效分析方法,并对无铅条件下该领域的研究作了简要评述.

电子组装、失效分析、焊点、失效机理

36

TN406(微电子学、集成电路(IC))

2007-10-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

46-50,73

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电子工业专用设备

1004-4507

62-1077/TN

36

2007,36(9)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn

打开万方数据APP,体验更流畅