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10.3969/j.issn.1004-4507.2007.06.002

单晶圆清洗技术

引用
由于器件工艺技术的飞速发展和图形关键尺寸的不断缩小,以及新材料的引入,使得前道工艺(FEOL)和后道工艺(BEOL)中表面处理显得更为重要,从而对晶圆的传统表面清洗技术提出了新的挑战.介绍了单晶圆清洗技术的发展现状和几家设备公司的市场应用动向.

表面处理、湿法清洗、单晶圆清洗、选择比

36

TN305.97(半导体技术)

2007-07-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

2-6,23

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1004-4507

62-1077/TN

36

2007,36(6)

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