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10.3969/j.issn.1004-4507.2007.04.003

向32 nm迈进的光刻技术

引用
概述了用于45 nm节点的各种光刻技术发展现状及技术路线,结合国际半导体技术发展指南(ITRS)和各公司最新宣布的研究成果,探讨了各种光刻技术用于32 nm节点的可能性.

浸液式光刻、折射率、双重曝光、极紫外光刻、纳米压印光刻、曝光设备

36

TN305.7(半导体技术)

2007-05-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共9页

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电子工业专用设备

1004-4507

62-1077/TN

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2007,36(4)

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