10.3969/j.issn.1004-4507.2005.07.012
全自动探针测试台之关键技术
根据国内外半导体产业的发展趋势,分析了ψ200mm全自动探针测试台在中国的发展及所需的相关技术.
探针测试台、发展、集成电路
34
TN407(微电子学、集成电路(IC))
2005-08-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
52-55
10.3969/j.issn.1004-4507.2005.07.012
探针测试台、发展、集成电路
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TN407(微电子学、集成电路(IC))
2005-08-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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