10.3969/j.issn.1004-4507.2005.07.009
基于多CIS的PCB基板缺陷自动光学检测系统
提出一种利用多CIS实现的检测PCB基板缺陷的新方法.采用多条CIS并行工作,并利用EZ-USB FX2作为USB接口控制器,高速地将CIS采集的图像数据向主机传送,应用程序再将得到的PCB图像数据进行处理,从而检测出PCB基板的缺陷.
接触式图像传感器、USB2.0、CPLD、自动光学检测
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TP274(自动化技术及设备)
2005-08-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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