10.3969/j.issn.1004-4507.2004.07.017
片状钽电容失效分析
针对片状钽电容在实际使用中失效率过高的问题,从电路设计和制造工艺两个方面分析导致片状钽电容失效的原因,并根据分析的结果给出相应的预防其失效的具体措施.
片状、钽电容、失效率、制造工艺、电路设计、预防、措施
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TN ;TM5
2004-09-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
79-81
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片状、钽电容、失效率、制造工艺、电路设计、预防、措施
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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