如何满足下一代PCI高速总线的测试需要
@@ 随着越来越多的新型器件设计采用PCI高速总线,集成电路制造商在新串行总线测试方面正面临新的挑战.对于数字总线,传统的功能和参数测试已经足够,但是由于PCI高速总线结合了2.5Gbps的数据传输率、时钟嵌入数据、多信道和复杂的通讯协议,使得传统的测试方法面临挑战.
高速总线、总线测试、通讯协议、数字总线、嵌入数据、器件设计、集成电路、测试方法、参数测试、制造商、多信道、传输率、时钟、功能、串行
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TP3;TN9
2004-07-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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