10.3969/j.issn.1672-5468.2023.02.013
片式多层陶瓷电容器的击穿特性研究
对引起片式多层陶瓷电容器(MLCC)击穿失效的主要因素进行了研究.根据MLCC的实际结构特点和材料特性建立模型,利用有限元模拟方法分析了典型缺陷对MLCC样品内部电场强度分布的影响,进一步地总结、分析了MLCC样品的击穿特性,具有一定的参考价值.
多层陶瓷电容器、缺陷、失效、击穿特性
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TP391.99(计算技术、计算机技术)
2023-05-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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