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10.3969/j.issn.1672-5468.2023.01.007

基于建模仿真的塑封光电耦合器失效分析

引用
首先,对塑封光电耦合器失效分析的现有方法及其作用进行了阐述;然后,介绍了塑封光电耦合器常见的失效模式及建模仿真分析思路;最后,对于塑封光电耦合器的封装材料进行了简要的分析,对于提高光电耦合器件的可靠性具有一定的指导意义.

塑封光电耦合器、失效分析、建模仿真分析、封装材料

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TP622;TP391.99(射流技术(流控技术))

2023-03-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共7页

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电子产品可靠性与环境试验

1672-5468

44-1412/TN

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2023,41(1)

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