期刊专题

10.3969/j.issn.1672-5468.2023.01.002

基于RFEM的电子元器件技术状态更改风险评估

引用
电子元器件技术状态更改是研发制造型企业在产品设计、生产和维护中经常碰到的问题.研制单位对生产加工的部分环节如关键原材料、工艺等进行更改时,往往未对该技术状态更改的效果进行专业的风险评估,从而导致更改的效果不佳,影响产品质量.针对电子元器件技术状态更改的不确定性,基于风险因子模糊评价法(RFEM),计算风险概率和风险后果影响程度来确定更改的风险情况,从而为电子元器件技术状态更改采取相应的风险控制提供了科学的决策依据.

电子元器件、技术状态、风险评估、风险因子模糊综合评价法

41

TB114.3(工程基础科学)

2023-03-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

5-8

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电子产品可靠性与环境试验

1672-5468

44-1412/TN

41

2023,41(1)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn

打开万方数据APP,体验更流畅