10.3969/j.issn.1672-5468.2022.02.017
基于ATE的高速RapidIO交换芯片测试方法
RapidIO交换芯片因其出色的延迟及高可靠性而被广泛地应用于各种通信系统中,可以高速地传输系统内各种设备间的数据.基于ATE测试系统对RapidIO交换芯片的测试内容及方法进行了探讨,尤其是对高速串行接口相关参数的测试方法进行了研究,并采用高速RapidIO交换芯片开展了测试验证.
RapidIO交换芯片、高速串行接口、自动测试设备
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TP206(自动化技术及设备)
广州省重点领域研发计划项目2020B0404030005
2022-07-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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