10.3969/j.issn.1672-5468.2022.02.015
基于失效物理的结构分析方法和实践
电子元器件可靠性结构分析是评估元器件可靠性的重要方法之一,需要基于失效物理开展分析,其目的是通过分析能够在早期查明元器件的固有可靠性状况、工艺质量及潜在的失效机制,评判元器件的长期可靠性及其在特定工程要求下的适应性.以某型号接口电路为例,详细地论述了基于失效物理的可靠性结构分析的基本方法原则和技术实现的关键.
可靠性、失效物理、可靠性结构分析、物理结构单元
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TB114.36(工程基础科学)
2022-07-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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