10.3969/j.issn.1672-5468.2022.02.008
EMCCD倍增增益老化分析与评价技术
微光成像技术在国防军事、科学研究等多方面有着不可替代的作用,已经成为各国竞相发展的战略高新技术.目前,空间用EMCCD芯片的设计与制造均由美国公司完全掌握,但美国政府对EMCCD技术进行严格的技术封锁和产品出口管制.而我国全天时相机对地观察等系统需要采用EMCCD,因此,急需针对国产化EMCCD开展倍增增益老化分析与评价.主要针对EMCCD的衰减特性,制定了3种不同的老化测试方法.通过对器件衰减曲线数据进行记录和分析,得出了器件在同一工作温度、不同和起始倍增倍数下,以及调节和不调节倍增电压情况下的衰减情况.为EMCCD在生产完成后能够快速地进入增益稳定期提供了一定的数据支撑,同时为其老化测试的方法提供了一定的指导.
电子倍增电荷耦合器件、微光成像、倍增增益老化、国产化
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TB114.37(工程基础科学)
2022-07-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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