10.3969/j.issn.1672-5468.2021.04.008
光电耦合器应用失效研究
针对光电耦合器在LLC谐振半桥拓扑结构中的应用失效问题,通过参数测试/X射线透视检查/制样镜检/机械开封/电子显微镜观察与能谱分析等手段开展失效分析,确定失效是由于光电耦合器存在批次性的工艺缺陷导致,并提出了相应的缺陷识别及工艺改进方法,为光电耦合器的可靠性增长提供了实践依据.
光电耦合器;失效分析;失效机理;制造缺陷
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TN622(电子元件、组件)
2021-09-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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