10.3969/j.issn.1672-5468.2020.05.003
SoC芯片关键测试技术综述
逐渐增大的集成度使得SoC芯片测试面临诸多新挑战.首先,概述了SoC芯片关键测试技术的国内外研究现状;然后,从SoC芯片系统级验证、SoC芯片高速信号测试和测试优化3个部分介绍了当前业界降低测试成本、提高芯片产品可靠性的关键技术手段;最后,展望了SC芯片测试技术的发展方向.
片上系统、系统级验证、高速信号测试、测试优化
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TN17(真空电子技术)
2021-01-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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