期刊专题

10.3969/j.issn.1672-5468.2020.04.020

倒装工艺中底部填充胶孔洞的分析与改善

引用
随着倒装封装中焊球间隙的不断缩小,底部填充工艺难度也逐渐地增加.尤其是对于铜柱型焊球倒装产品,其固化后出现孔洞的现象越来越多.如何减少底部填充空洞,降低可靠性失效的风险,是产品工艺工程师、封装设计工程师与材料供应商需要共同解决的问题.阐述了底部填充工艺中出现孔洞的原因,并将其分为随机分撩型孔洞、助焊剂残留型孔洞和空气内包型孔洞3类.结合研究文献与实际工程经验,从焊球分布和底部填充工艺方面绘出了改善建议,对于底部填充孔洞的解决与改善具有一定的参考意义.

倒装、底部填充、孔洞、改善建议

38

TN405(微电子学、集成电路(IC))

2020-11-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

94-97

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电子产品可靠性与环境试验

1672-5468

44-1412/TN

38

2020,38(4)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn

打开万方数据APP,体验更流畅